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超快速高低温气流冲击试验机

简要描述:超快速高低温气流冲击试验机适用于各类闪存Flash/EMMC、PCB 电路板IC、光通讯(如收发器 transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等)、半导体芯片、电子行业等进行IC 特性分析、温度冲击测试、高低温循环测试失效分析等可靠性试验。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2019-12-25
  • 访  问  量:1874
详情介绍

超快速高低温气流冲击试验机技术参数:

外形尺寸:W(宽)660mm*H(高)1120mm*D(深)1040mm

温度范围:-80℃至+250℃

控制精度:±0.5℃

冲击气流量:4~18SCFM(1.8~8.5L/S)

冲击速率:-55度    +125度,恢复时间10S

超快速高低温气流冲击试验机控制系统

1.15寸超大人机介面

2.支持USB、LAN,可实现电脑手机远程操控

3.二种检测模式:AIR NODE 和DUT MODE

4.运行模式

1)手操:手动切换/自动循环。

2)程序:手动切换/ 自动循环。

超快速高低温气流冲击试验机工作原理:

1、试验机输出气流罩将被测试品罩住,形成一个较密闭空间的测试腔,试验机输出的高温或低温气流,使被测试品表面温度发生剧烈变化,从而完成相应的高低温冲击试验;

2、可针对众多元器件中的某一单个IC或其它元件,将其隔离出来单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件,与传统冷热冲击试验箱相比,温变变化冲击速率更快

超快速高低温气流冲击试验机满足试验标准:

1.GB/T 2423.1-2008试验A:低温试验方法;

2.GB/T 2423.2-2008试验B:高温试验方法;

3.GB/T2423.22-2012试验N: 温度变化试验方法

4. GJB/150.3-2009高温试验

5. GJB/150.4-2009低温试验          

6. GJB/150.5-2009温度冲击试验

超快速高低温气流冲击试验机工作模式:

A)2路主空气管输出,由分布头分为8路供气,带2套1拖8 系统

B) 2种检测模式Air Mode和DUT Mode

测试和循环于高温/常温/低温(或者不要常温)

超快速高低温气流冲击试验机可针对众多元器件中的某一单个IC或其它元件,将其隔离出来单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件,与传统冷热冲击试验箱相比,温变变化冲击速率更快

是将被控制温度的压缩机空气从气嘴喷射出来,仅仅只需要数秒钟的时间就可以达到一个温度试验必须的环境,与普通的高低温冲击试验箱相比较,大大的缩短了试验时间,提高生产效率。



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