半导体紫外线老化试验箱可以再现阳光、雨水和露水所产生的破坏。设备通过将待测材料曝晒放在经过控制的阳光和湿气的交互循环中,同时提高温度的方式来进行试验。设备采用紫外线荧光灯模拟阳光,同时还可以通过冷凝或喷淋的方式模拟湿气影响。
uv紫外线老化试验机模拟由太阳紫外光引起之破坏,通过将被测材料暴露于受控高温下光照中,来对材料进行城耐侯测试。它用紫外线灯管模拟阳光的辐射作用,通过冷凝和水喷淋模拟露水和雨水。
uv1紫外线老化试验箱用紫外线灯管模拟阳光的辐射作用,可以再现在室外需要几个月甚至几年的时间才会发生的损伤,其中包括褪色、颜色变化、失去光泽、粉化、破裂、裂纹、起皱、起泡、脆化、强度降低、氧化等,其测试结果可用于选择新材料,改善现有材料,或评估材料配方的改变。