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全面分析LED的可靠性试验的必要性

发布时间: 2015-05-29  点击次数: 1259次

我司生产的可靠性环境试验设备在LED行业应用非常广泛,在从事业务过程中,常常会接到客户说:“我们是LED行业的,你帮我推荐些试验设备吧"。那么LED行业到底需要哪些设备呢?

LED在实际使用中,由于复杂的环境以及封装工艺局限性从而使封装材料退化、荧光粉退化、金属电迁移、局部温度过高产生的热应力所引起的芯片和硅胶的分层或金线断裂等等,从而影响LED发光甚至导致整个LED的失效。而且LED产生的高温会导致芯片的发光效率降低,光衰加快、色移等严重后果。

 LED照明系统中的典型失效模态


等级

失效模式

芯片

LED芯片失效光衰

封装

断线,脱焊

光型变化

静电击穿

胶材黄化

照明系统

光型变化

驱动失效

静电击穿

湿气侵入


由于LED寿命长,通常采取加速环境试验的方法进行可靠性测试与评估。加速度测试将会模仿灯具的应用条件或用户要求,这样可以更有效地研究各种破坏机理,提供大量数据去研究LED的结构、材料、工艺从而更好完善LED产品。一些典型的加速可靠性试验。

应用于LED照明系统的典型加速可靠性实验


测试项目

条件

冷热循环

-40℃~125℃200H循环

高温高湿

85℃/85%,1000小时

关机测试

1小时开/1小时关

震动测试

随机振动


    然而,加速老化试验只是研究问题的一个方面,对LED寿命的预测机理和方法的研究仍是有待研究的难题。现在的LED技术面临着巨大的挑战和机遇。企业的目标主要是保证产品长期的可靠性,例如,根据产品不同,LED应用的范围寿命从7000小时到50000~100000小时不等。这对于一个电子企业是有相当挑战性的,因为他们的电子产品现在只有2-3年寿命。对于50000~100000小时的SSL系统(包括电源驱动),有必要进行可靠性设计,以符合产品的高要求。

  目前,如何通过加速老化试验准确地预测LED产品的可靠性还是相当有挑战性的。对于LED产品的长期可靠性,应当关注如何建立用加速试验来反映产品中出现的问题。对于了解和预测宏观系统的可靠性,可测性非常具有挑战性,主要是因为可靠性是一个多学科的问题,并且涉及到材料、设计、制造工艺、试验和应用条件。因此,有必要开发LED灯和灯具的加速试验以及户外照明灯具性能测试实验,从而可以有效地研究关于LED的各种破坏机理。

飞利浦公司目前致力于研究可靠性测试标准,从而深入了解LED以及电源驱动的失效机理。去年年底已经在我司订制了一台快速升降温的试验箱。

为此,LED行业需要用到恒温恒湿试验箱,高低温试验箱,快速温变试验箱,高低温冲击试验箱,电磁振动试验台,模拟运输振动试验台,淋雨试验箱,砂尘试验箱等,我们公司可以成套销售,为您解决一站式服务,欢迎前来公司实地考察,咨询。

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